ICSE - Du logiciel durable pour un monde durable

Réutilisation de connaissance dans le domaine du test de carte à puce

ICSE - Du logiciel durable pour un monde durable

Réutilisation de connaissance dans le domaine du test de carte à puce

La conférence ICSE 2012 a lieu à Zurich, en Suisse, du 2 au 9 juin 2012.
Il s’agit de la 34ème édition de la conférence internationale de l’ingénierie logicielle.

Suite à une collaboration de longue date avec STMicroelectronics
Belgium
, le département Software & System Engineering du CETIC a mis au
point une méthode efficace pour la réutilisation de connaissance dans le
domaine du test de carte à puce et en a proposé une généralisation à
d’autres domaines (Article de référence "Génération des plans de test pour cartes à puces chez STMicroelectronics Belgique").

Une publication intitulée "Efficient Reuse of Domain-Specific Test Knowledge : An Industrial Case in the Smart Card Domain"
présentant la méthode, l’outil et la validation réalisée a été acceptée
à la session industrielle de la conférence ICSE 2012 qui a lieu à Zurich (Suisse) en juin 2012. Il s’agit d’une des
conférences les plus renommées dans le domaine du génie logiciel.

Pour plus d’informations à propos de cet événement, consultez le site d’ICSE 2012.

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Presentation in the main room.